ACD-1D電容物位計耐高溫型

ACD-1D電容物位計耐高溫型

一、概 述

本公司多年來一直專業(yè)從事物位測控技術(shù)的研究，開發(fā)和生產(chǎn)了多種物位測量產(chǎn)品。本系列電容物位計系全套引進*技術(shù)及制造工藝生產(chǎn)的物位測量產(chǎn)品之一。它使復(fù)雜的物位測量如高溫、高壓、真空、強腐蝕等介質(zhì)的物位測量變得容易而簡單。經(jīng)過不斷地的堅持和實踐，以射頻電容技術(shù)為核心的物位測量系統(tǒng)日臻完善，現(xiàn)已開發(fā)利用并生產(chǎn)出能夠滿足不同要求的如污水、污油、油水界面、固體顆粒等的物位測量產(chǎn)品。

二、主要特點

應(yīng)用射頻電容技術(shù)，從根本上解決了溫度、濕度、壓力、物體的導(dǎo)電性等因素對測量過程的影響，因而具有*的抗干擾性和可靠性；

能夠測量強腐蝕性的液體和固體顆粒，如酸、堿、鹽、水、污水等液體和化工原料、飼料、糧食、煤灰、水泥、面粉等粉狀或顆粒狀固體。

高溫高壓測量：過程溫度25~+220℃；過程壓力-0.1~4.0MPa 。

智能化現(xiàn)場定標技術(shù)為用戶輕松地投用產(chǎn)品提供了便利。

HART通訊用手操器可遠程調(diào)校

ACD-1D電容物位計耐高溫型

三、技術(shù)參數(shù)

電容物位儀表：兩線制，Hart，液晶顯示；

測量方式：射頻電容技術(shù)；

電    源：24VDC±10%      輸   出：4~20mADC

     精    度：0.5%(4~20mA）    環(huán)境溫度：-25~+70℃

環(huán)境濕度：0-95%RH           介質(zhì)溫度：-25~+220℃

測量范圍：0-5000PF          過程壓力：-0.1~4.0MPa

防爆標志：Ex（ia）Ⅱ CT4

外    殼：鋁合金隔爆型，可用于潮濕、有酸氣等腐蝕環(huán)境

探    極：可采用任一種剛性或柔性探極